晶圓是一種常用的半導體材料，按其直徑分為4英寸、5英寸、6英寸和8英寸規格。由于電子產品的精度要求，非常有必要對單個元器件進行100%可靠檢測，及時有效地消除不良品，保證最終產品的質量。由于工藝水平不同，晶圓生產階段可能存在三種缺陷：冗余、晶體缺陷和機械損傷。因此，高效、準確的測...

熒光材料是由金屬（鋅、鉻）硫化物或稀土氧化物與微量活化劑結合煅燒而成，它是無色或淺白色。它根據顏料中金屬和活化劑的種類和含量，在紫外光（200～400nm）照射下呈現各種顏色的可見光（400～800nm）。反光材料可以快速反射回照在其表面的光線。反射光的波長范圍因材料不同而不同。...

科研級倒置共聚焦顯微鏡技術幫助我們克服了成像活細胞的許多困難，借助光學系統可以輕松使用。改進的系統速度、改進的靈活性和高效的多模式特性使其成為研究和活細胞成像的理想系統。1、高質量相位差圖像使用這一創新系統，相位差環被集成到顯微鏡的主體而不是物鏡中。用戶不必使用相位差專用物鏡來觀...

激光三維表面輪廓儀是一種用于各種精密器件和材料表面亞納米測量的測試儀器，基于白光干涉技術原理，結合精密Z向掃描模塊和3D建模算法，對器件表面進行非接觸式掃描，建立表面3D圖像，通過對器件表面3D圖像進行處理和分析。系統軟件，獲取反映器件表面質量的2D和3D參數，實現器件表面形貌的...

2021年10月8日到10日，韓國納茲克股份有限公司參加由中國科學院半導體研究所主辦，中國科學院材料科學與光電技術學院、北京化工大學聯合承辦，以西安電子科技大學、國家納米科學中心、南京郵電大學、南京大學、東南大學等協辦的下一代電子信息材料與器件高峰論壇暨第三屆低維材料應用與標準研...

NanoscopeSystems（納茲克股份有限公司）參加了2021年9月24日至26日在天津濱海新區舉行的“第十三屆全國顆粒測試學術會議”，本次開會議邀請了國內顆粒測試的專家總結交流顆粒測試方面的最新成果，探討顆粒測試發展方向與未來趨勢。本次展品的范圍包括各種類型的激光粒度分析...

激光共聚焦顯微鏡可用于準確可靠的三維(3D)測量，實時共聚焦顯微鏡圖像可以通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現。這是用于測量和檢查微3D結構的有前途的解決方案，例如半導體晶片、FPD產品、MEMS設備、玻璃基板和材料表面。激光共聚焦顯微鏡采用高級光學系統，可通過無損觀察產生高質...

2021年8月28日，經過長期的籌備，為了更好地服務大中華區用戶，統籌和管理各種商業活動，韓國納茲克股份有限公司(NanoscopeSystems.Inc）攜手巨納集團成立大中華區辦事處，并派遣經驗豐富的商務和技術人員常駐中國。納茲克股份有限公司的產品主要應用于工業領域，材料科學...