?Nanoscope Systems參展2024年第五屆低維材料應(yīng)用與標(biāo)準(zhǔn)研討會

韓國Nanoscope Systems 擬參加2024年12月29日-31日在廣東珠海舉辦的第五屆低維材料應(yīng)用與標(biāo)準(zhǔn)研討會。本屆低維材料應(yīng)用與標(biāo)準(zhǔn)研討會由全國納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會低維納米結(jié)構(gòu)與性能工作組，北京理工大學(xué)主板，中國科學(xué)院物理研究所，中國科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所，北京航空航天大學(xué)，北京科技大學(xué)，南京大學(xué)，湖南大學(xué)，復(fù)旦大學(xué)，武漢大學(xué)協(xié)辦。

會議關(guān)注二維材料，納米線，量子點等低維材料的研究，應(yīng)用及標(biāo)準(zhǔn)化，為低維材料相關(guān)領(lǐng)域的專家，學(xué)者，企業(yè)家交流最新研究成果，探討產(chǎn)業(yè)發(fā)展方向提供一個廣泛的平臺。

本次會議中展出的產(chǎn)品為NS3500 高速3D激光共聚焦顯微鏡

NS3500是專門為芯片，半導(dǎo)體，顯示等領(lǐng)域研發(fā)的一款高速3D激光共聚焦顯微鏡，采用405nm激光作為光源。利用共軛成像的原理，可以有效消除焦點以外雜散光的影響，有效提高設(shè)備的光學(xué)分辨率。Z軸方向采用PZT，可以實現(xiàn)在Z軸方向超高精度的定位并且采用類似于連續(xù)斷層攝影的方式獲得一張張2D光學(xué)切片，然后利用設(shè)備專門設(shè)計的軟件重新構(gòu)建成3D圖像。由于設(shè)備采用的是非接觸式的檢測方式，因此不需要提前處理樣品，只需要將樣品置于XY stage 上即可進行測量。

應(yīng)用案例 1：Bump

應(yīng)用案例 2：Hall Connectors Pins

應(yīng)用案例 3：Chip Wire bonding

應(yīng)用案例 4：ITO Glass

應(yīng)用案例 5：Film Roughness